Сканирующий микроскоп Verios
В связи с большими колебаниями курсов валют цены на сайте не являются актуальными. За информацией просьба обращаться по телефону 8 (800) 505-13-75 или по эл. почте info@t-ndt.ru
Второе поколение XHR SEM (сканирующие электронные микроскопы сверхвысокого разрешения) — флагманской линейки компании FEI. Этот прибор обеспечивает субнанометровое разрешение в диапазоне ускоряющих напряжений 1–30 кВ и высочайшую контрастность изображения. Его непревзойденная работа при низких ускоряющих напряжениях обеспечивает получение точных данных о структуре поверхности, недоступных при использовании других методов. Максимальная разрешающая способность достигает 0.6 нм!
Микроскоп Verios абсолютно незаменим при производстве полупроводников и устройств хранения данных. Существенно расширяя возможности стандартных SEM, этот прибор позволяет работать с нано узлами, что превращает его в комплексное решение для теоретических исследований, управления технологическими процессами, создания материалов, задач фрактографии, анализа дефектов.
Отличительные особенности:
- FESEM-колонна Elstar с иммерсионной линзой сверхвысокого разрешения
- Электронная пушка Elstar, в том числе:
- Термополевой эмиттер Шоттки
- Возможность замены без прерывания работы
- Технология UC (монохроматор)
- Двойная объективная линза с углом 60° с защитой полюсного наконечника
- Нагреваемые апертуры объектива
- Электростатическое сканирование
- Технология линзы с постоянной мощностью ConstantPower™
- Торможение пучка с подачей отрицательного смещения на столик от –50 В до –4 кВ
- Интегрированная функция быстрого гашения пучка*
- Прибор
- Инструкция
Внимание! Производитель оставляет за собой право изменить комплект поставки.
Характеристики электронной пушки |
• Разрешение при оптимальном рабочем расстоянии |
Предметный столик |
5-осевой предметный столик сверхвысокой точности с пьезоэлектрическим приводом |
Рабочая камера |
Точка Вцентрика электронного пучка и EDS на рабочем расстоянии 4 мм, 21 порт |
Детекторы |
• Внутрилинзовый детектор вторичных электронов Elstar (TLD-SE) |
Вакуумная система |
• 1 x 210 л/с турбомолекулярный насос |
Дополнительные аналитические возможности |
• Анализ: EDS* |
Управление системой |
• 32-битный графический пользовательский интерфейс на базе Windows® ХР, клавиатура, оптическая мышь |
Получение изображений |
• Время получения изображений 0,025–25 000 мкс/пиксель |
Доступные программные функции |
• Программное обеспечение доступа к веб-архиву данных* |
Системные опции |
• Стандартно поставляется держатель для различных задач, уникальный тем, что устанавливается непосредственно на столик, и на него можно установить до 18 стандартных столиков образцов (диам. 12 мм), 3 скошенных стойки, образцы поперечных сечений и 2 наклонных многостоечных держателей* (38° и 90°) |
Требования по установке |
• Электропитание: напряжение 100–240 В~, частота 50 или 60 Гц ± 1 % |
Внимание! Технические характеристики могут быть изменены производителем без предварительного уведомления.
Отзывы на данный товар отсутствуют. Ваш отзыв может стать первым.
- Похожие товары
- Ранее Вы смотрели
17.04.2024
Компании ООО "Техно-НДТ" вручён диплом за поддержку отборочного этапа Всероссийского конкурса РОНКТД
27.03.2024
Приглашаем посетить IX международный промышленный Форум ТЕРРИТОРИЯ NDT!