ПРИБОРЫ НЕРАЗРУШАЮЩЕГО КОНТРОЛЯ
ГЕОДЕЗИЧЕСКОЕ И СТРОИТЕЛЬНОЕ ОБОРУДОВАНИЕ

График работы: с пн-пт. 8:00-17:00 (МСК)

меню

Просвечивающий микроскоп Talos


Производство: FEI Ltd., США
Наличие на складе: уточняйте у менеджера

Растровый/просвечивающий электронный микроскоп (S/TEM) мощностью 200 кВ, обеспечивающий быстрое и точное количественное снятие характеристик наноматериалов в нескольких измерениях. Благодаря уникальным инновациям, разработанным для повышения производительности, точности и простоты эксплуатации, микроскоп Talos является идеальным выбором для углублённой научно-исследовательской работы в лабораториях, госструктурах и в сфере технических исследований.

Отличительные особенности:

  • Лучшие в отрасли оптические показатели: линза объектива постоянной мощности A-TWIN.
  • Максимальное удобство в использовании: быстрый и простой переход между операциями подходит для многопользовательской эксплуатации.
  • Сверхстабильная платформа: линза объектива постоянной мощности, предметный столик с пьезоэлектрическим приводом, жёсткий защитный корпус системы и возможность дистанционного управления обеспечивают максимальную стабильность работы прибора.
  • Камера SmartCam: цифровая камера, работающая по принципу «нашёл и посмотрел», упрощает работу всех приложений и позволяет работать в условиях дневного света.
  • Полностью интегрированный быстрый детектор: CMOS-камера Ceta 16 Мп обеспечивает широкую зону видимости и высокую скорость считывания (2 кадра/с при разрешении 4K и 18 кадров/с при разрешении 1K).
  • Полностью дистанционное управление: автоматическая система настройки апертуры в сочетании с камерой Ceta поддерживает функцию полностью дистанционного управления.
  • Расширенные аналитические возможности: благодаря применению линз A-TWIN микроскоп Talos позволяет расширить аналитические возможности в трёхмерных объёмах посредством EDX- томографии.
  • Прибор
  • Инструкция

Внимание! Производитель оставляет за собой право изменить комплект поставки.

Характеристики электронной пушки

Разрешение STEM HAADF: 0,16 нм

Информационный предел TEM: 0,12 нм
Разрешающая способность TEM по точкам: 0,25 нм
Диапазон увеличения STEM: 150×–230M×
Диапазон увеличения TEM: 25×–1,50M×
Яркость X-FEG: 1,8 x 109 A/см2/стерадиан (при 200 кВ)
Суммарный ток пучка: > 50 нA
Ток зонда: 0,4 нA в зонде 0,31 нм (при 200 кВ) 1,5 нA в зонде 1,0 нм (при 200 кВ)

Предметный столик

Максимальный дифракционный угол: ± 12˚
Максимальный угол наклона с двойным наклонным держателем: ± 30˚
Максимальный гониометрический угол наклона (предметного столика): ± 90˚

Рабочая камера

Длина камеры: 12–5100 мм

Детекторы

EDS-система Super-X: Симметричная безоконная конструкция с 2 или 4 SDD-детекторами с защитной заслонкой
Энергетическое разрешение: < 136 В для Mn-Kα и 10 000 пульсов в секунду (на выходе)
Быстрая EDS-съёмка: Пиксельное время выполнения операции понижено до 10 мкс
Телесный угол EDX: 0,45/0,9 стерадиан

Внимание! Технические характеристики могут быть изменены производителем без предварительного уведомления.

Отзывы на данный товар отсутствуют. Ваш отзыв может стать первым.

^