Приборы неразрушающего контроля
геодезическое и строительное оборудование

с пн-пт. 8:00-17:00 (МСК)

меню
0

Конфокальный микроскоп LEXT OLS 4100


По запросу
Производство: Olympus, США
Наличие на складе: уточняйте у менеджера

В связи с большими колебаниями курсов валют цены на сайте не являются актуальными. За информацией просьба обращаться по телефону 8 (800) 505-13-75 или по эл. почте info@t-ndt.ru


Метрологическая конфокальная лазерная система совмещает в себе все преимущества оптических, а также возможности лазерных конфокальных технологий, при этом оптические характеристики данного прибора сравнимы с характеристиками электронных микроскопов. Преимуществом перед электронными микроскопами является то, что образцы для исследования не требуют подготовки, а рабочее расстояние и большие размеры столиков (до 300х300мм) позволяет устанавливать образцы больших размеров, чем в электронных микроскопах. Прибор предназначен для изучения топографии поверхности в таких областях, как криминалистика, экспертная деятельность, создание и изучение новых материалов, машиностроение и т.д. Прибор оснащен современным интуитивно-понятным программным обеспечением, контролирующим все моторизованные функции микроскопа, а также позволяющим проводить различные геометрические измерения, проводить анализ фазового состава, проводить измерение толщин пленок, параметров повторяющихся структур и т.д. Также прибор имеет возможность бесконтактным методом измерять шероховатость по широкому ряду стандартов, что позволяет использовать данный прибор вместо профилометра.

Отличительные особенности:

  • Общий диапазон увеличений от 50х до 17280х.
  • Самое высокое разрешение на сегодняшний день среди подобных приборов (по горизонтали до 120 нм, по вертикали до 10 нм!)
  • Уникальная сканирующая система с технологией «двойная пиноль» позволяет измерять образцы с наклоном до 85°.
  • Имеет 4 режима лазерного сканирования от самого быстрого до самого точного.
  • Моторизованный ультразвуковой безлюфтовый столик100х100мм (300х300мм, позволяющий установить крупный образец, высотой до 100мм).
  • Автоматическая обработка и анализ изображения, измерение высот, дистанций, площадей, объемов, анализа частиц линейной и плоскостной шероховатости, определение края и др.
  • Неразрушающие 2D и 3D измерения объекта в режиме реального времени.
  • Прибор
  • Инструкция

Внимание! Производитель оставляет за собой право изменить комплект поставки.

Применение

Материаловедение

Тип микроскопа 

Измерительный лазерный

Диапазон увеличений

108-17280x

Методы контрастирования

Светлое поле, простая поляризация, лазерный ДИК

Оптическая система

UIS2, специальные объективы LEXT

Осветители

Белый LED, 405 нм лазерный источник

Револьвер объективов

Моторизированный 6-позиционный для светлого поля/ДИК

Предметные столики

100x100 мм (механический и моторизированный)
300x300 (моторизированный)

Возможность моторизации

да

Внимание! Технические характеристики могут быть изменены производителем без предварительного уведомления.

Отзывы на данный товар отсутствуют. Ваш отзыв может стать первым.

^