Двухлучевой микроскоп Scios 2
В связи с большими колебаниями курсов валют цены на сайте не являются актуальными. За информацией просьба обращаться по телефону 8 (800) 505-13-75 или по эл. почте info@t-ndt.ru
В универсальной двухлучевой системе Scios 2 применяется аналитическая двулучевая технология сверхвысокого разрешения DualBeam™, обеспечивающая выдающиеся эксплуатационные характеристики при двухмерном и трёхмерном анализе широкого диапазона образцов, включая магнитные материалы. Разработанный для повышения производительности, точности сбора данных и простоты эксплуатации, микроскоп Scios 2 — это инновационный прибор, идеально подходящий, как для рутинной так и для углублённой исследовательской работы в научных лабораториях, госструктурах и корпоративных отделах НИОКР.
Отличительные особенности:
- NICol: неиммерсионная колонна FESEM сверхвысокого разрешения:
- Высокоустойчивая автоэмиссионная пушка Шоттки
- Срок службы источника 12 месяцев
- Простые установка и обслуживание пушки — автоматический прогрев, автоматический запуск, отсутствие потребности в механической регулировке положения
- Автоматизированные нагреваемые апертуры
- Непрерывное регулирование тока пучка и оптимизированная апертура
- Двухступенчатое обнаружение при сканировании
- Линза с двойным объективом, сочетающая электромагнитные и электростатические линзы
- Геометрия линзы объектива 60°
- Подсказки для пользователя и предустановки
- Ионная колонна Sidewinder
- Жидкометаллический галлиевый источник ионов с высокой плотностью тока
- Срок службы источника: гарантируется 1 300 часов/2 600 мкА
- Ускоряющее напряжение: от 500 В до 30 кВ
- Ток зонда: от 0,6 пА до 65 нA, 15 ступеней
- Стандартное гашение пучка
- Апертурная полоса с 15 положениями
- Увеличение: 40×-1,28Mх в зависимости от светофильтра
- Режим подавления смещения входит в стандартную комплектацию для непроводящих образцов
- Формирование изображения в высоком вакууме, оптимальное рабочее расстояние
- 3,0 нм (статистика на основе свыше 50 кромок)
- 5,0 нм (статистика на основе свыше 1000 кромок)
- Максимальная ширина горизонтального поля: 4,0 мм при рабочем расстоянии 7 мм (соответствует минимальному увеличению до 30x в квадрантном виде)
- Особо широкая зона видимости (1х), достигаемая благодаря стандартному навигационному монтажу
- Прибор
- Инструкция
Внимание! Производитель оставляет за собой право изменить комплект поставки.
Характеристики электронной пушки |
· Формирование изображения в высоком вакууме при оптимальном рабочем расстоянии: |
Предметный столик |
Вцентрический гониометрический высокоточный моторизованный по 5 осям предметный столик |
Рабочая камера |
· Размер по горизонтали: 379 мм |
Детекторы |
·· Система обнаружения Trinity (внутрилинзовая и встроенная в колонну) |
Вакуумная система |
·· Полностью безмасляная вакуумная система |
Дополнительные аналитические возможности |
·· Очистка образца / камеры: FEI CryoCleaner, FEI Integrated Plasma Cleaner |
Управление системой |
·· 64-битный графический пользовательский интерфейс на базе Windows 7, клавиатура, оптическая мышь |
Получение изображений |
·· Интервал времени точечной экспозиции (dwell time) сканирования 0,025–25 000 мкс/ пиксель |
Доступные программные функции |
·· Концепция графического пользовательского интерфейса «Beam per view» (один пучок в виде) с отображением до 4 одновременно активных видов |
Системные опции |
·· Пакет AutoFIB™ для автоматизации работы двулучевой системы DualBeam на базе макросов и скриптов |
Требования по установке |
·· Электропитание: |
Внимание! Технические характеристики могут быть изменены производителем без предварительного уведомления.
Отзывы на данный товар отсутствуют. Ваш отзыв может стать первым.
- Похожие товары
- Ранее Вы смотрели
17.04.2024
Компании ООО "Техно-НДТ" вручён диплом за поддержку отборочного этапа Всероссийского конкурса РОНКТД
27.03.2024
Приглашаем посетить IX международный промышленный Форум ТЕРРИТОРИЯ NDT!