Двухлучевой микроскоп Helios Nanolab
В связи с большими колебаниями курсов валют цены на сайте не являются актуальными. За информацией просьба обращаться по телефону 8 (800) 505-13-75 или по эл. почте info@t-ndt.ru
В двухлучевой системе Helios реализованы новейшие достижения в области автоэмиссионных SEM (FESEM), фокусированного ионного пучка (FIB) и совместного использования этих технологий. Helios NanoLab специально разрабатывался как инструмент, позволяющий максимально широко использовать возможности сверхвысокого разрешения (XHR) при выполнении 2D- и 3D-анализа, создании нанопрототипов и подготовке образцов высочайшего качества. Технология Elstar™ FESEM обеспечивает наилучшую детализацию в нанометровом диапазоне в самых разных рабочих режимах: точность значительно ниже 1 нм достигается как при 30 кВ в режиме STEM для получения информации о структуре, так и при 500 В для беззарядного получения детальных данных о поверхности. Предусмотрена тройная система детектирования внутри колонны и режим иммерсии, которые могут использоваться одновременно для формирования изображений SE и BSE (вторичных и обратноотражённых электронов) в зависимости от угла и энергии пучка.
Отличительные особенности:
- Электронная пушка Elstar, в том числе:
- Термополевой эмиттер Шоттки
- Возможность переключения между режимами без нарушения вакуума
- Технология UC (монохроматор)
- Диапазон энергии пучка у поверхности образца 20 В – 30 кВ
- 60° объектив с двумя линзами с защитой полюсного наконечника
- Нагреваемые апертуры объектива
- Электростатическое сканирование
- Технология линзы с постоянной мощностью ConstantPower™
- Торможение пучка с подачей потенциала на предметный столик от 0 В до –4 кВ
- Интегрированная функция быстрого гашения (бланкера) пучка*
- Ионная колонна Tomahawk
- Превосходные характеристики при работе на высоком токе с макс. током пучка до 65 нА
- Диапазон ускоряющего напряжения 500 В – 30 кВ
- Двухступенчатая дифференциальная откачка
- Времяпролётная коррекция (TOF)
- 15 апертур
- Срок службы источника
- Срок службы источника электронов: 12 месяцев
- Срок службы источника ионов: гарантия 1000 часов
- Разрешение ионного пучка в точке пересечения
- 4,0 нм при 30 кВ с использованием предпочтительного статистического метода
- 2,5 нм при 30 кВ с использованием
- Максимальная ширина горизонтального поля
- Электронный пучок: 2,3 мм в точке совпадения пучка (рабочее расстояние 4 мм)
- Ионный пучок: 0,9 мм при 8 кВ в точке совпадения пучка
- Ток зонда
- Электронный пучок: от 0,8 пA до 22 нА (CX); от 0,8 пA до 100 нА (UC)
- Ионный пучок: 0,1 пA – 65 нA (апертурная полоса с 15 положениями)
- Прибор
- Инструкция
Внимание! Производитель оставляет за собой право изменить комплект поставки.
Характеристики электронной пушки |
Для UC на оптимальной рабочей дистанции |
Предметный столик |
Вцентрический гониометрический высокоточный моторизованный по 5 осям предметный столик |
Рабочая камера |
• Точка схождения ионного и электронного пучков на аналитическом рабочем расстоянии (4 мм SEM) |
Детекторы |
• Внутрилинзовый SE/BSE детектор Elstar (TLD-SE, TLD-BSE) |
Вакуумная система |
• 1 x 210 л/с турбомолекулярный насос |
Дополнительные аналитические возможности |
• Анализ: EDS, EBSD, WDS, катодолюминесценция и спектроскопия |
Управление системой |
• 64-битный графический интерфейс пользователя с Windows 7, клавиатура, оптическая мышь |
Получение изображений |
• Время выполнения операции 0,025–25 000 мкс/пиксель |
Доступные программные функции |
Пакет AutoFIB™ для автоматизации работы двулучевой системы DualBeam на базе макросов и скриптов |
Системные опции |
Источник ионов - плазменная пушка ПФИП |
Требования по установке |
Частота 50 или 60 Гц +/- 1% |
Внимание! Технические характеристики могут быть изменены производителем без предварительного уведомления.
Отзывы на данный товар отсутствуют. Ваш отзыв может стать первым.
- Похожие товары
- Ранее Вы смотрели
17.04.2024
Компании ООО "Техно-НДТ" вручён диплом за поддержку отборочного этапа Всероссийского конкурса РОНКТД
27.03.2024
Приглашаем посетить IX международный промышленный Форум ТЕРРИТОРИЯ NDT!