ПРИБОРЫ НЕРАЗРУШАЮЩЕГО КОНТРОЛЯ
ГЕОДЕЗИЧЕСКОЕ И СТРОИТЕЛЬНОЕ ОБОРУДОВАНИЕ

График работы: с пн-пт. 8:00-17:00 (МСК)

Система QUANTAX EBSD

Производство: Bruker Nano GmbH, Германия
Наличие на складе: уточняйте у менеджера

QUANTAX EBSD – СИСТЕМА ДИФРАКЦИИ ОБРАТНО РАССЕЯННЫХ ЭЛЕКТРОНОВ

Основные преимущества:

  • Быстрое картирование и получение результатов одновременно по элементному составу с помощью EDS и кристаллической структуре и текстуре с помощью EBSD с быстродействием до 930 точек/с.
  • Серия детекторов дифракции обратно рассеянных электронов e-Flash EBSD с вертикальным позиционированием для получения наилучшего EBSD-сигнала.
  • Скорость картирования ориентации кристаллитов – 630 точек/с (сортировка 4 x 4) или 930 точек/с (сортировка 8 x 8) с помощью детектора e-Flash1000.
  • Сбор карт с высоким разрешением с помощью e-FlashHR, предоставляющего снимки образцов с разрешением до 1600 x 1200 точек. Скорость сбора 140 точек/с (сортировка 10 x 10) и 170 точек/с (сортировка 20 x 20). Также поддерживаются измерения при низком ускоряющем напряжении (до 5 кВ) и низких токах пучка (до 0,1 нА).
  • Направляющее устройство с точностью позиционирования на люминесцентном экране <10 мкм.
  • Уникальная функция автоматического отвода детектора после завершения измерения.
  • Система QUANTAX EBSD
  • Набор технической документации

Внимание! Производитель оставляет за собой право изменить комплект поставки.


^